實(shí)驗(yàn)用高低溫箱常用于航天太空、國(guó)防工業(yè)、自動(dòng)車部品、塑化工業(yè)、光纖、精密電感、晶體、PCB、LED、LCD電子零組件、食品業(yè)、制藥工業(yè)、半導(dǎo)體電腦周邊組件及各相關(guān)產(chǎn)品之研發(fā)、品質(zhì)管理工程之測(cè)試規(guī)范。

實(shí)驗(yàn)用高低溫箱的技術(shù)參數(shù)：

升降溫速率：

RT<----->150℃ 約35分鐘（非線性空載，約3.0℃/分鐘）。

RT<----->-20℃ 約45分鐘（非線性空載，約1.0℃/分鐘）。

可滿足以下標(biāo)準(zhǔn)：

GB2423.2-2008(IEC68-2-2)試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法；GB2423.1-2008(IEC68-2-1)試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法；GB2423.22-2008(IEC68-2-14)試驗(yàn)NB：溫度循環(huán)試驗(yàn)方法 。GB2423.3-2006(IEC68-2-3)試驗(yàn)CA：GJB150.3A-2009(MIL-STD-810D)高溫試驗(yàn)方法 。GJB150.4A-2009(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法 ；